納米粒度及Zeta電位分析儀顆粒粒度測量的性能特點
更新時間：2021-06-04 | 點擊率：2265
納米粒度及Zeta電位分析儀使用優化的反演算法，使得測量結果準確度高、重復性好，還可與多功能自動滴定系統相連接，配合強大易用的控制軟件，獲得納米顆粒粒徑和Zeta電位隨pH值、添加劑濃度及溫度變化的趨勢。軟件還具有一鍵式SOP測量功能，無需用戶干預，自動調整散射光、自動優化光子相關器參數，以適應不同樣品，是測量納米顆粒粒度和Zeta電位的信賴之選。
納米粒度及Zeta電位分析儀顆粒粒度測量的性能特點：
1.高效的光路系統：采用固態激光器和一體化光纖探頭搭建而成的光路滿足空間相干性的要求，提高了散射光信號的信噪比，激光器波長為532nm，最大功率50mW。
2.高靈敏度光子探測器：采用計數型光電倍增管，對光子信號具有*的靈敏度和信噪比；采用邊沿觸發模式對光子進行計數，瞬間捕捉光子脈沖的變化。
3.大動態范圍高速光子相關器：采用以高、低速通道搭配的結構設計光子相關器，有效解決了硬件資源與通道數量之間的矛盾，實現了大的動態范圍，并保證了相關函數基線的穩定性。
4.高精度溫控系統：基于半導體制冷裝置，采用自適應PID控制算法，樣品池溫度控制范圍為0°~120°，精度達±0.1℃。
5.剔除灰塵的影響：引入分位數檢測異常值的方法，鑒別受灰塵干擾的散射光數據，并剔除異常值，提高粒度測量結果的準確度。
6.優化的反演算法：采用優化擬合累積反演算法計算平均粒徑以及多分散系數，基于非負約束正則化算法反演顆粒粒度分布，粒度測量范圍為0.3nm-15μm，測量結果的準確度和重復性均優于1%。
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