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納米粒度及Zeta電位分析儀 9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關(guān)器為核心器件，使用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)測(cè)量顆粒粒度，使用相位分析光散射技術(shù)測(cè)量Zeta電位，使用靜態(tài)光散射技術(shù)測(cè)量分子量，測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確可靠，是測(cè)量納米顆粒...
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Zeta電位分析儀 9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關(guān)器為核心器件，使用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)測(cè)量顆粒粒度，使用相位分析光散射技術(shù)測(cè)量Zeta電位，使用靜態(tài)光散射技術(shù)測(cè)量分子量，測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確可靠，是測(cè)量納米顆粒...
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動(dòng)態(tài)圖像粒度粒形分析儀 MorphoVIEW系列動(dòng)態(tài)圖像粒度粒形分析儀，在運(yùn)動(dòng)過(guò)程中捕捉顆粒的圖像，具有采樣量大，無(wú)取向誤差等特點(diǎn)。利用高分辨率工業(yè)相機(jī)，顆粒圖像更清晰，測(cè)量結(jié)果更準(zhǔn)確，使用數(shù)字圖像分析方法，不僅給出顆粒的粒...
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靜態(tài)圖像粒度粒形分析儀 MorphoVIEWS380靜態(tài)圖像粒度粒形分析儀基于顯微鏡結(jié)構(gòu)，通過(guò)自動(dòng)樣品臺(tái)帶動(dòng)顆粒在平面內(nèi)移動(dòng)，使用高分辨率相機(jī)逐張進(jìn)行拍照，在圖像采集過(guò)程中顆粒保持靜止，確保獲得高清晰的圖像。通過(guò)USB3.0...
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圖像粒度粒形分析儀 MorphoVIEW 系列圖像粒度粒形分析儀用于測(cè)量顆粒粒度與粒形參數(shù)。顆粒粒度粒形是反應(yīng)顆粒特性的基本指標(biāo)，它決定了顆粒的物理、化學(xué)、力學(xué)等特性。為了控制產(chǎn)品的質(zhì)量，生產(chǎn)過(guò)程中需要對(duì)顆粒粒度粒形參數(shù)...
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納米粒度及Zeta電位分析儀 Zetatronix 系列納米粒度及Zeta電位分析儀用于測(cè)量顆粒粒度與Zeta電位。納米顆粒由于粒徑十分細(xì)小，其表面的晶體結(jié)構(gòu)發(fā)生變化，從而在電學(xué)、光學(xué)和化學(xué)活性等方面表現(xiàn)出的性能。粒徑大小是表征納...
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