圖像粒度粒形分析儀是一種激光加圖像二和一的粒度粒形分析系統(tǒng)。它的激光散射系統(tǒng)為雙鏡頭斜入射光學(xué)系統(tǒng)，成像系統(tǒng)為動態(tài)雙路遠心顯微成像系統(tǒng)，可同步進行粒度和粒形分析，實現(xiàn)了一機兩用。分析儀避免了多光束技術(shù)造成的間斷散射光信號的連接偏差和多波長造成的樣品折射率偏差，使測試結(jié)果更準確，同時實現(xiàn)了對納米、微米甚至毫米級樣品的準確粒度測試。由于探測器數(shù)量多和結(jié)構(gòu)*，該儀器具有*分辨單峰、雙峰和多峰樣品的能力。
圖像粒度粒形分析儀可以輕松地根據(jù)您的質(zhì)量控制程序進行校準。可以一次分析32種形態(tài)參數(shù)，包括尺寸，形狀，表面粗糙度，密度，透明度以及3D圖像。可用于測量顆粒，例如肥料，沙子，糖，石頭和各種食品工業(yè)產(chǎn)品。同時，該儀器還采用了樣品折射率測量技術(shù)、自動對中技術(shù)、防干燒超聲波分散技術(shù)、SOP技術(shù)、大功率偏振光技術(shù)等，進一步提升了它的重復(fù)性、準確性和分辨力。
圖像粒度粒形分析儀*的分析技術(shù)，除了可以記錄2D分析具有的顆粒大小和形狀參數(shù)外，還可以記錄顆粒的厚度信息。并且只需要一次運行即可完成顆粒的追蹤功能。提供多種參數(shù)過濾或篩選功能，報表簡單、強大、靈活。可以生成復(fù)雜的報表作為研究之用，用戶可以選擇報表呈現(xiàn)的通道數(shù)以及每個通道的寬度。
