粒度測(cè)量的主要方法

       顆粒測(cè)量的方法很多，這些方法或是基于單個(gè)顆粒的維度，或是基于顆粒群體特征。每種方法涵蓋不同的粒徑范圍，并基于不同的物理原理。一般來(lái)說(shuō)，這些方法可以分為直接觀測(cè)、基于顆粒群的光學(xué)方法和基于介質(zhì)中顆粒運(yùn)動(dòng)的技術(shù)。常用的測(cè)量方法包括篩分法、顯微圖象(動(dòng)態(tài)／靜態(tài))法、沉降法、電阻法、激光散射法、電子顯微鏡法、光阻法、透氣法、動(dòng)態(tài)光散射法等。  
       (1)篩分法具有簡(jiǎn)單、直觀、設(shè)備造價(jià)低等特點(diǎn)，常用于大于40微米的樣品。其缺點(diǎn)是結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。  
       (2)顯微圖像法除具有簡(jiǎn)單、直觀等特點(diǎn)外，還可進(jìn)行形貌分析，適合分布窄(最大和最小粒徑的比值小于10:1)的樣品。其缺點(diǎn)是代表性差，分析分布范圍寬的樣品比較麻煩。  
       (3)沉降法(包括重力沉降和離心沉降)操作簡(jiǎn)便，儀器可以連續(xù)運(yùn)行，價(jià)格低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好，測(cè)試范圍較大，缺點(diǎn)是測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng)，操作較繁瑣。  
        (4)電阻法操作簡(jiǎn)便，可進(jìn)行顆粒計(jì)數(shù)，速度快，準(zhǔn)確性好，缺點(diǎn)是不適合測(cè)量小于0.1微米的顆粒樣品，對(duì)粒度分布寬的樣品需要頻繁更換小孔管。  
       (5)激光散射法操作簡(jiǎn)便，測(cè)量速度，測(cè)量范圍寬，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可進(jìn)行在線測(cè)量和干法測(cè)量，其缺點(diǎn)是結(jié)果受分布模型影響。  
       (6)電子顯微鏡法適合超細(xì)顆粒測(cè)量，分辨率高，可進(jìn)行形貌和結(jié)構(gòu)分析。其缺點(diǎn)是樣品少，代表性差，儀器價(jià)格昂貴。  
       (7)光阻法具有測(cè)量便捷快速，可測(cè)液體或氣體中的顆粒數(shù)，分辨力高。其缺點(diǎn)是不適合測(cè)量小于1微米的顆粒樣品，進(jìn)樣系統(tǒng)要求較高，僅適合塵埃、污染物或已稀釋好的藥物進(jìn)行測(cè)量。  
        (8)透氣法儀器價(jià)格低，不需對(duì)樣品進(jìn)行分散，可測(cè)磁性粉體材料。其缺點(diǎn)是只能得到平均粒度值，不能測(cè)粒度分布，且不能測(cè)小于微米細(xì)粉。  
       (9)動(dòng)態(tài)光散射法適用于亞微米及納米級(jí)顆粒的粒度測(cè)量，作為基光散射方法的一種，具有重復(fù)性和準(zhǔn)確性好的特點(diǎn)，但其缺點(diǎn)也是測(cè)量結(jié)果受分布模型影響。  
       粒度測(cè)量技術(shù)基于多種原理，每種技術(shù)產(chǎn)生一個(gè)特征尺寸或等效球體的尺寸分布，對(duì)于非球形顆粒，測(cè)量結(jié)果則取決于測(cè)量原理。由于這種依賴性，采用不同技術(shù)得到的非球形顆粒的粒度分布則可能是有差異的，差異的大小很大程度上取決于顆粒的形狀。