澳譜特科技推出納米粒度及Zeta電位分析儀

      澳譜特科技（上海）有限公司于近日隆重推出OPT-919SZ新一代納米粒度及Zeta電位分析儀，OPT-919SZ的面世，宣告擁有*自主知識產權的國產Zeta電位分析儀在真正意義上開始商用。
      澳譜特科技誕生于中國國家技術型產業開發區——上海紫竹高新區，作為實驗分析儀器行業的新星，澳譜特科技深諳技術和創新的重要性，在成立之初就積極吸納人才，組建了一支由理論基礎深厚和實踐經驗豐富的技術專家構成的研發團隊。為了更好地立足于儀器行業，滿足客戶的需求，澳譜特科技的專家團隊堅持開拓與創新，深耕顆粒表征技術10余年，先后開發出擁有*自主知識產權的高速數字相關器，動態圖像粒度粒形分析儀以及最新推出的納米粒度及Zeta電位分析儀。

OPT-919SZ納米粒度及Zeta電位分析儀

       納米顆粒的粒度對產品的質量起著至關重要的作用，納米粒度測量是采用動態光散射技術分析樣品顆粒散射光強隨時間的漲落規律，使用光子探測器采集散射光，通過相關器進行自相關運算得到相關函數，再經過數學反演獲得顆粒的粒徑信息。為提高顆粒粒度測量的準確性和重復性，OPT-919SZ納米粒度及Zeta電位分析儀采用了大功率低波長固體激光器和一體化光纖技術集成的光路，充分滿足了空間相干性的要求，極大地提高了散射光信號的信噪比；采用高靈敏度光子探測器，利用邊沿觸發模式對光子進行計數，能瞬間捕捉光子脈沖的變化；積十年之功自主研發成功的高速數字相關器，采用高低速通道搭配結構，有效解決了硬件資源與通道數量之間的矛盾，并保證了相關函數基線的穩定性；引入數據篩選功能，大幅提高了粒度測量結果的準確性。

蔗糖、溶菌酶、混合乳膠球顆粒樣品在25℃下的粒度測量結果

       Zeta電位是表征分散體系穩定性的重要指標，澳譜特科技的Zeta電位分析是基于激光多普勒電泳光散射技術，利用先進的光纖技術集成發射光路和接收光路，使參考光和散射光信號的傳輸不受灰塵和外界雜散光的干擾，儀器的信噪比和抗干擾能力得到了有效提高；通過頻譜細化分析，準確獲得散射光的頻移；基于雙電層理論模型獲得準確的顆粒半徑與雙電層厚度，利用最小二乘擬合算法獲得精確的Henry函數表達式，進而有效提高了Zeta電位的計算精度及重復性和重現性。

聚苯乙烯顆粒分散體系電泳遷移率及Zeta電位的測量結果

      作為一款集合了儀器制造專業人士智慧的分析儀器，除了上述特點外，OPT-919SZ納米粒度及Zeta電位分析儀還可以與澳譜特科技的多功能自動滴定系統相連接，配合強大易用的控制軟件，獲得納米顆粒粒徑和Zeta電位隨pH值、添加劑濃度及溫度變化的趨勢。軟件還具有一鍵式SOP測量功能，無需用戶干預，自動調整散射光、自動優化光子相關器參數，以適應不同樣品。
      澳譜特科技會繼續深耕顆粒表征儀器的開發，加大創新力度，研發出更多品質過硬的產品。相信澳譜特科技在為行業發展注入強勁動力的同時，公司也將憑借良好的口碑創造屬于自身的輝煌！