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納米粒度及Zeta電位分析儀 9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關器為核心器件，使用動態(tài)光散射技術測量顆粒粒度，使用相位分析光散射技術測量Zeta電位，使用靜態(tài)光散射技術測量分子量，測量結果準確可靠，是測量納米顆粒...
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納米粒度及Zeta電位分析儀 9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關器為核心器件，使用動態(tài)光散射技術測量顆粒粒度，使用相位分析光散射技術測量Zeta電位，使用靜態(tài)光散射技術測量分子量，測量結果準確可靠，是測量納米顆粒...
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納米粒度分析儀 9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關器為核心器件，使用動態(tài)光散射技術測量顆粒粒度，使用相位分析光散射技術測量Zeta電位，使用靜態(tài)光散射技術測量分子量，測量結果準確可靠，是測量納米顆粒...
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納米粒度及Zeta電位分析儀 9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關器為核心器件，使用動態(tài)光散射技術測量顆粒粒度，使用相位分析光散射技術測量Zeta電位，使用靜態(tài)光散射技術測量分子量，測量結果準確可靠，是測量納米顆粒...
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納米粒度分析儀 9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關器為核心器件，使用動態(tài)光散射技術測量顆粒粒度，使用相位分析光散射技術測量Zeta電位，使用靜態(tài)光散射技術測量分子量，測量結果準確可靠，是測量納米顆粒...
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Zeta電位分析儀 9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關器為核心器件，使用動態(tài)光散射技術測量顆粒粒度，使用相位分析光散射技術測量Zeta電位，使用靜態(tài)光散射技術測量分子量，測量結果準確可靠，是測量納米顆粒...
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動態(tài)圖像粒度粒形分析儀 MorphoVIEW系列動態(tài)圖像粒度粒形分析儀，在運動過程中捕捉顆粒的圖像，具有采樣量大，無取向誤差等特點。利用高分辨率工業(yè)相機，顆粒圖像更清晰，測量結果更準確，使用數(shù)字圖像分析方法，不僅給出顆粒的粒...
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靜態(tài)圖像粒度粒形分析儀 MorphoVIEWS380靜態(tài)圖像粒度粒形分析儀基于顯微鏡結構，通過自動樣品臺帶動顆粒在平面內(nèi)移動，使用高分辨率相機逐張進行拍照，在圖像采集過程中顆粒保持靜止，確保獲得高清晰的圖像。通過USB3.0...
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圖像粒度粒形分析儀 MorphoVIEW 系列圖像粒度粒形分析儀用于測量顆粒粒度與粒形參數(shù)。顆粒粒度粒形是反應顆粒特性的基本指標，它決定了顆粒的物理、化學、力學等特性。為了控制產(chǎn)品的質量，生產(chǎn)過程中需要對顆粒粒度粒形參數(shù)...
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納米粒度及Zeta電位分析儀 Zetatronix 系列納米粒度及Zeta電位分析儀用于測量顆粒粒度與Zeta電位。納米顆粒由于粒徑十分細小，其表面的晶體結構發(fā)生變化，從而在電學、光學和化學活性等方面表現(xiàn)出的性能。粒徑大小是表征納...
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