【新品上市】多角度納米粒度及Zeta電位分析儀

      顆粒粒度對產(chǎn)品的質(zhì)量起著至關(guān)重要的作用，為了幫助廣大用戶準確獲得顆粒粒度信息，以便更好地指導(dǎo)工業(yè)生產(chǎn)，澳譜特科技推出了939SZ多角度納米粒度及Zeta電位分析儀。不同粒度的顆粒在不同散射角具有不同的散射特性，多角度動態(tài)光散射從多個不同的散射角進行光強自相關(guān)函數(shù)的測量，并將其結(jié)合到一個數(shù)據(jù)分析中獲取顆粒粒度分布。多角度動態(tài)光散射技術(shù)具有如下優(yōu)點：  
      1.避免了對未知樣品不恰當(dāng)散射角度的選擇  
      2.可以提供更多的信息進行顆粒粒度分布的反演  
      因此，多角度動態(tài)光散射技術(shù)可以獲得更多的顆粒粒度測量信息，進而提高顆粒粒度分布的準確性。